Векилова Г.В., Иванов А.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 2

Конспект лекций. — М.: МИСиС, 2007. — 41 с. Третья часть конспекта лекций посвящена описанию теоретических основ метода просвечивающей электронной микроскопии. Просвечивающая электронная микроскопия Формирование изображения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ) Основные типы контраста в ПЭМ Основы кинематической теории дифракционного контраста Принципы динамической...

3-е изд., перераб. и доп. - М.: МИСИС, 1998. -400 с. В третьем издании (второе вышло в 1983 г. ) с учетом достижений в области металловедения, механики разрушения дана современная трактовка физического и технического смысла важнейших механических свойств. С использованием теории дефектов кристаллического строения рассмотрены процессы деформации и разрушения металлов при...

Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...

Учебник. — М.: МИСИС, 1994. — 480 с. — ISBN 5-87623-005-7. Изложены основы общего металловедения и термической обработки. проанализированы фазовые равновесия и фазовые превращения в металлах и сплавах, закономерности формирования структуры сплавов при затвердевании в широком диапазоне скоростей охлаждения, влияние химического состава на эксплуатационные и литейные свойства...

М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...