М.: "Сов. радио" 1974. — 200 с.
Книга представляет систематическое изложение теоретических и экспериментальных основ оптического метода исследования поверхностей свойств и процессов на границе раздела двух сред.
Физические основы эллипсометрии
Метод расчета поляризационных эффектов
Схемы измерений Δ и ψ
Аппаратура
Методы определения физических характеристик поверхностей и границ раздела
Некоторые применения эллипсометрии