Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Taur Y., Ning T.H. Fundamentals of Modern VLSI Devices

  • Файл формата pdf
  • размером 72,64 МБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Taur Y., Ning T.H. Fundamentals of Modern VLSI Devices
Cambridge: Cambridge University Press, 2009. — 677 p.
Basic Device Physics
MOSFETS Devices
CMOS Device Design
CMOS Performance Factors
Bipolar Devices
Bipolar Device Design
Bipolar Performance Factors
Memory Devices
Silicon on Insulator Devices
Appendices (1 to 18)
Indexes
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация