Ткаль В.А., Окунев А.О. (сост.) Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)

Прогр. и материалы Третьего междунар. науч. семинара, 22–25 мая 2006 г. НовГУ им. Ярослава Мудрого. — Великий Новгород, 2006. — 306 с. — ISBN: 5-89896-300-6.Доклады на русском и английском языках. Публикуются доклады, представленные на Третьем международном семинаре «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)», отражающие различные аспекты теории и применения дифракционных методов в исследовании материалов.
Включена программа семинара.