Семенова О.Р. Рентгенографическое исследование тонкой структуры твердых тел

Учебное пособие. – Пермь: Издательский центр Пермского государственного национального исследовательского университета, 2018. – 96 с. — ISBN 978-5-7944-3093-6Рассмотрены два метода дифракционного структурного анализа, применяемые для исследования тонкой кристаллической структуры твердых тел и основанные на анализе формы дифракционных линий, а также приведен метод расчета размера зерна в крупнокристаллических материалах. Даны теоретические сведения, обосновывающие методику проведения эксперимента, а затем предложены три лабораторные работы, в которых сформулированы три задачи и указан последовательный ход их решения с практическим комментарием при выполнении каждого этапа. Приведены контрольные вопросы и список используемой литературы.
Предназначено для студентов направления подготовки бакалавров «Нанотехнологии и микросистемная техника» физического факультета
университета.